JEM-1400（JEOL）
日本電子（JEOL）製の透過電子顕微鏡 JEM-1400 は、加速電圧120 kVの汎用型透過電子顕微鏡です。電子線を試料に透過させ、試料内部の構造をナノメートルスケールで観察することができます。特に、植物組織、微生物、細胞、樹脂包埋超薄切片などの生物試料の観察に適しており、細胞壁、細胞膜、細胞内小器官などの微細構造を高コントラストで観察できます。また、免疫染色試料やネガティブ染色試料の観察に適しています。
・仕様
LaB6電子銃搭載、CCDカメラ撮像（モンタージュ機能有）、
加速電圧：80、100、120 kV、
粒子像分解能0.38 nm、格子像分解能0.20 nm、
TEM倍率×200～×1,200,000、LOW-MAGモード×10～×1,000、
試料ホルダー：標準試料ホルダー（傾斜±25°）、高傾斜試料ホルダー（傾斜±70°、電子線トモグラフィー用）、SiN Window Chip共通ホルダー（ミリメートルサイズの連続した広視野観察用）、4連型試料ホルダー
JEM-1200EX（JEOL）
日本電子（JEOL）製の透過電子顕微鏡 JEM-1200EX は、加速電圧120 kVの汎用型透過電子顕微鏡です。電子線を試料に透過させることで、光学顕微鏡では観察できない細胞や組織の超微細構造をナノメートルスケールで観察することができます。植物組織、微生物、細胞、樹脂包埋超薄切片などの生物試料の観察に適しており、細胞壁、細胞膜、細胞内小器官などの微細構造解析に利用されています。
・仕様
タングステンフィラメント電子銃搭載、
EMSIS製 M-ViewG3 2.8Mピクセルサイドカメラ、
加速電圧：80、100、120 kV、粒子像分解能0.3 nm、格子像分解能0.14 nm、
倍率50～1,000,000倍、試料ホルダー：2連型試料ホルダー
FE-SEM SU8220（HITACHI）
日立ハイテク製の電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM） SU-8220 は、冷陰極電界放出形電子銃を搭載した高分解能走査電子顕微鏡です。試料表面から発生する二次電子や反射電子を検出することで、試料表面の微細な形態や凹凸、組成の違いなどを高分解能で観察することができます。
エネルギー分散型X線分析装置EDSを搭載しており、無コーティングやオスミウムコーティング試料の元素分析を行うことができます。
低加速電圧で超薄切片観察にも対応しています。また、透過電子（STEM）検出器を用いることで薄切片などの内部構造を走査透過電子像として観察、EDS検出器を組み合わせることで切片の元素分析も可能です。さらに、連続切片の自動撮像システムACATを備え、植物組織や微生物などの連続超薄切片を自動撮像することで、試料の三次元的な微細構造解析にも利用できます。
・仕様
冷陰極電界放出形電子銃搭載、加速電圧：0.1～30 kV、二次電子像分解能：0.8 nm（15 kV）、倍率：20～1,000,000倍、STEM検出器、YAG反射電子検出器、EDS（X-MAX）搭載
連続切片自動撮像システム ACAT（Auto Capture for Array Tomography）搭載
卓上SEM TM-3030（HITACHI）
日立ハイテク製の卓上型走査電子顕微鏡 TM-3030 は、コンパクトな筐体と簡便な操作性を特徴とする走査電子顕微鏡です。試料表面から発生する反射電子を高感度に検出することで、試料表面の微細な形態や凹凸に加えて、組成の違いをコントラストとして観察することができます。また、低真空条件での観察にも対応しており、導電性の低い試料や比較的大きな試料などを簡便に観察することができます。
・仕様
プリセンタードカートリッジフィラメント電子銃搭載、高感度4分割半導体反射電子検出器、加速電圧：5、15 kV、
倍率：15～30,000倍（デジタルズーム×2、×4）、最大試料サイズ：直径70 mm、厚さ50 mm、
標準観察モード・帯電軽減モード搭載
加圧凍結装置
・HPM010（Baltec/Leica）
急速凍結装置
・KF80（REICHERT/Leica）
樹脂重合装置
・TD-750（堂阪イーエム）
・TD-500（堂阪イーエム）
・TUV-200紫外線重合装置（堂阪イーエム）
ウルトラミクロトーム
・UC6（Leica）
・ULTRACUT S（Leica）
ウルトラミクロトーム周辺機器
・DiATOME sonic（DiATOME）
ガラスナイフメーカー
・7800 KNIFEMAKER（LKB）
・KNIFEMAKER（REICHERT）
臨界点乾燥装置
・CPD300（Leica）
凍結乾燥装置
・ES-2020（HITACHI）
オスミウムコーター
・Neoc-Pro（メイワフォーシス）
カーボンコーター
・VC-100（真空デバイス）
イオンスパッター
・E-1030（HITACHI）
・E-102（HITACHI）
親水化処理装置
・PIB-10（真空デバイス）
蛍光光学顕微鏡
・BX-41（OLYMPUS）
